FEI申請(qǐng)針對(duì)電子顯微鏡的磁放大控制專利,使用一個(gè)或多個(gè)磁浸沒場來修改電子到電子檢測器上的軌跡

國家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局信息顯示,F(xiàn)EI公司申請(qǐng)一項(xiàng)名為“針對(duì)電子顯微鏡的磁放大控制”的專利,公開號(hào)CN121662688A,申請(qǐng)日期為2025年9月電子。

專利摘要顯示,本文提供了針對(duì)電子顯微鏡的磁放大控制的系統(tǒng)或技術(shù)電子。在各種實(shí)施例中,系統(tǒng)可包括電子顯微鏡,該電子顯微鏡使電子衍射穿過分析樣品,并使用一個(gè)或多個(gè)磁浸沒場來修改電子到電子檢測器上的軌跡。

聲明:市場有風(fēng)險(xiǎn),投資需謹(jǐn)慎電子。本文為AI基于第三方數(shù)據(jù)生成,僅供參考,不構(gòu)成個(gè)人投資建議。

來源電子:市場資訊

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