國家知識產(chǎn)權(quán)局信息顯示，F(xiàn)EI公司申請一項名為“針對電子顯微鏡的磁放大控制”的專利，公開號CN121662688A，申請日期為2025年9月電子。
專利摘要顯示，本文提供了針對電子顯微鏡的磁放大控制的系統(tǒng)或技術(shù)電子。在各種實施例中，系統(tǒng)可包括電子顯微鏡，該電子顯微鏡使電子衍射穿過分析樣品，并使用一個或多個磁浸沒場來修改電子到電子檢測器上的軌跡。
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來源電子：市場資訊
