華志電子取得天平耐老化測(cè)試裝置專利，具有高溫測(cè)試和低溫測(cè)試兩種功能:測(cè)試

國(guó)家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局信息顯示，華志（福建）電子科技有限公司取得一項(xiàng)名為“天平耐老化測(cè)試裝置”的專利，授權(quán)公告號(hào)CN223756151U，申請(qǐng)日期為2024年12月測(cè)試。 專利摘要顯示，本實(shí)用新型涉及電子天平領(lǐng)域，尤其涉及天平耐老化測(cè)試裝置，包括測(cè)試箱，測(cè)試箱的內(nèi)部通過隔板分隔為測(cè)試腔以及分別位于測(cè)試腔相對(duì)